本发明涉及一种用于检验FDG放射性化学纯度的简便方法,该方法包括以下步骤:(1)制作层析薄板:将层析硅胶薄板裁成宽2cm,长10cm的纸条,在距底部1.0cm处画一条基线,并在8cm处以及该处两侧间隔0.5cm处画线,作为前沿;(2)点样:将展开剂置于层析缸中,盖上盖子混匀,放置,展开剂挥发是层析缸内充满饱和蒸汽;在层析硅胶薄板的基线中间点上待检测样品,并在红外灯下烘干,然后置于,层析缸中,使点样好的层析硅胶薄板浸入展开剂中0.2-0.4cm,带展开至前沿位置,取出晾干;(3)薄层色谱仪测试FDG放射性纯度;将步骤(2)所得层析板固定,通过薄层色谱仪扫描检测样品的放射性化学纯度。与现有技术相比,本发明具有操作简单、误差小、数据真实可靠等优点。
声明:
“用于检验FDG放射性化学纯度的简便方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)