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一种FPGA基本性能测试装置

1123   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:32:55
本实用新型属于电子技术类,涉及一种FPGA器件基本性能测试装置,主要包括过流保护电路、电源转换电路、BGA测试插座,FPGA外围电路、I/O测试电路、指示灯电路等。用于快速测量FPGA基本性能,包括上电引导、I/O引脚短路开路测试。由+5V电源适配器通过USB接口为检测工装供电,BGA测试插座用于固定被测芯片,测试时将被测芯片装在BGA插座上。FPGA外围电路包含PROM及外围引导电路,PROM存放测试程序。I/O测试电路针对FPGA通用I/O特性,设计I/O输出输入驱动电路,对每个FPGA引脚输出输入特性进行测试。本测试装置检测FPGA芯片基本性能,用于芯片质量控制,保证后续生产顺利进行。
声明:
“一种FPGA基本性能测试装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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