本发明提供一种测试AD性能的方法,其过程如下:1)两台矢量信号源、PC机、合路器和被测接收机;将两台矢量信号源的输出端与合路器的输入端相连,合路器的输出端与被测接收机相连,被测接收机与PC机相连。2)计算输入二阶互调截点值为IIP
2=2P
in‑P
s(dBm);3)计算三阶互调截点值为
4)计算路间隔离度,其公式为:ACI=P
w0‑P
wn(dBm)。本方法可以方便计算AD
芯片采集模拟信号的二、三阶互调截点、路间隔离度;使得短波超短波等设备便于性能测试;具有结构简单、使用方便、测试数据准确等优点。
声明:
“一种测试AD性能的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)