本发明揭示了一种直流接触器生产工艺,其包括以下步骤,装配总瓷管组;总瓷管组进行开距总程测试,并判断开距总程测试是否合格,若否,则为不合品,若是,则装配半主体;半主体进行气密性测试,并判断气密性测试是否合格,若否,则为不合格品,若是,则装配主体;主体进行性能测试,并判断性能测试是否合格,若否,则为不合格品。本申请通过对装配的总瓷管组进行开距总程测试,对装配的半主体进行气密性测试,对装配的主体进行性能测试,能及时发现直流接触器在生产中的产品缺陷,对不良品进行排除,避免了后续工序的浪费。
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