本发明公开了一种衍射光学元件检测系统及方法,包括:光源,用于发射光束;透镜,用于汇聚所述光源发射的光束并投射平行光束,在标定时直接投射到检测器上,在测定时投射到DOE上;DOE,接收、分束所述平行光束,并投射衍射光束;检测器,在标定时接收所述透镜投射的平行光束;在测定时,接收所述DOE投射的衍射光束;控制处理器,与光源及检测器连接,用于控制光源发射光束以及检测器采集光束,同时接收来自检测器采集的光束图像并对光束图像进行处理以检测DOE的性能。通过该系统和方法,可以对DOE进行性能检测,对批量DOE进行分类,从而提升光学模组的质量与产品的一致性,避免不良产品可能造成的后期危害。
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