本实用新型公开了一种用于高精度ADC测量的检测装置,涉及电子设备领域。本实用新型中:控制器通过温度控制装置/加湿装置对检测平台进行温度/湿度控制,微处理器通过数据采集模块采集检测平台传输的数据信息,控制器通过通信模块与上位机进行信息交互,湿度传感器感应检测平台的湿度数据,温度传感器感应检测平台的温度数据,ADC性能
检测仪上设有待测接口,ADC性能检测仪用于检测待测ADC
芯片的性能参数。本实用新型通过设置检测平台对ADC芯片进行检测,并通过设置温度控制模块和加湿模块对检测平台进行温度/湿度控制,从而检测出温度湿度因素对ADC芯片性能的影响,并通过设置通信模块和上位机进行交互,方便工作人员远程查看数据及控制。
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