本发明涉及电器元器件检测技术领域,且公开了一种电器元器件老化性能检测用的检测装置及系统,包括检测外壳,所述检测外壳内侧的底部固定连接有四个固定块,所述固定块的顶部设有电路板,所述电路板顶部的四角均活动套接有六角螺栓,所述电路板顶部靠近正面的一侧固定连接有第三三极管,所述电路板顶部靠近正面位于所述第三三极管的另一侧固定连接有第二三极管,所述电路板顶部靠近正面位于所述第二三极管的另一侧固定连接有第一三极管,所述电路板顶部的另一侧固定连接有电源;本发明通过设有发光二极管,有利于使用者在进行检测时只需通过观察发光二极管是否发光即可检测电子元器件是否正常工作,便于使用者快速的检测电子元器件。
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