本实用新型公开一种含漏气线束的电子器件密封性能检测装置,包括治具上、下模,其上设有型腔,含漏气线束的电子器件随形布置于型腔内,型腔的外侧设置密封槽,密封槽内设置有密封圈,密封圈上设置有容纳槽,治具上模和治具下模对应容纳槽处分别设置有上卡紧块和下卡紧块,治具上模上设置有进气口,当需要检查含漏气线束的电子器件密封性能时,将治具上模和治具下模压紧,上卡紧块和下卡紧块的楔形槽将密封圈顶起,将漏气线束卡紧在容纳槽内,含漏气线束的电子器件被密封在型腔内,从治具上模的进气口向用于向型腔内充气,由气密测试仪对含漏气线束的电子器件进行气密性测试。有益效果:本检测装置结构简单,密封性好,气密性检测可靠。
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