本发明公开了一种电子元件性能检测方法、装置、可读介质及电子设备,方法包括:确定正常运行的电子设备中目标电子元件以各个工作频率运行时所分别对应的基准温度值,并根据各个所述基准温度值生成基准温度曲线;实时检测所述电子设备中所述目标电子元件的当前工作频率及当前温度值;查询所述基准温度曲线以确定所述当前工作频率所对应的基准温度值;计算所述当前温度值与所述当前工作频率所对应的基准温度值之间的温度差,并确定所述温度差是否大于第一预设温度;当所述温度差大于所述第一预设温度时,确定所述目标电子元件发生性能衰减。通过本发明的技术方案,可确定电子电子元件是否发生性能衰减。
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