硬件核心技术：高灵敏度X射线荧光光谱仪(HS XRF®)
1) 单色化激发
全聚焦双曲面弯晶仅衍射X射线管出射谱中靶材高强特征射线，从而消除了入射谱中散射线背景干扰，将谱线背景降低2个数量级。
2) 聚焦激发
单色化射线能量聚焦到样品较小面，提升待测元素激发效率，SDD探测器可以接收更大立体角产生的元素射线，信号强度增加。
软件核心技术：快速基本参数法(Fast FP®)
XRF元素定量难点：
1) 基体效应
2) 元素之间吸收-增强效应
3) 标准样品欠缺
快速基本参数法通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，将物理学明确的物理现象建立相应的数学模型和数据库，基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到元素精确定量分析结果。
土壤无机元素含量分析
应用概述：
近二十年来，随着我国工业化、农业现代化、城镇化的快速发展，土壤环境形势发生了根本变化，土壤污染问题频发，耕地土壤环境堪忧，对我国经济社会发展带来新的威胁和挑战。
最新颁布的《GB15618-2018 土壤环境质量 农用地土壤环境污染风险管控标准》和《GB36600-2018土壤环境质量 建设用地土壤污染风险管控标准》将重金属限值分为“风险筛选值”和“风险管制值”，这两个限值与农产品质量安全直接相关，因此能够准确分辨重金属限值的分析仪器是满足标准的基本要求。传统XRF在土壤总镉分析中面临挑战，检出限难以达到限值要求，且在便携性上无法满足现场检测的需求。由于土壤基体复杂性和地区差异性等因素，XRF若不借助有效算法，无法适应各种类型土壤重金属元素分析需求。高灵敏度XRF重金属分析仪PHECDA系列通过对镉的单色化聚焦激发，降低背景和提升元素荧光强度，达到农用地镉限量值检测要求;快速基本参数法(Fast FP)消除由于土壤基体差异带来背景差异，正确计算了元素间吸收-增强效应和谱线干扰，达到对土壤样品的高准确度定量分析。
与ICP-MS测试数据一致性验证实验，砷和铅相关系数均
声明：
“高灵敏度XRF重金属分析仪” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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编辑：中冶有色网
来源：袁经理
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2025年05月23日 ~ 25日 
