权利要求书： 1.一种X光金属镀层测厚仪，包括支撑台(1)，其特征在于，所述支撑台(1)的侧边固定连接有支撑架(2)，且支撑架(2)的中端由上至下开设有调节槽(8)，且调节槽(8)的槽壁活动连接有调节件(6)，且调节件(6)的两头均固定连接有衔接件(7)，且衔接件(7)的内边固定连接有升降台(4)，且升降台(4)的中端由外至内开设有滑槽(23)，且滑槽(23)的槽壁活动连接有滑动件(21)，且滑动件(21)的外边固定连接有固定件(20)，且固定件(20)的内边固定连接有测厚仪(9)。2.根据权利要求1所述的一种X光金属镀层测厚仪，其特征在于，所述支撑台(1)、升降台(4)和衔接件(7)由外向内均固定连接有轴承(3)，且轴承(3)的内圈分别固定连接有调节螺杆(11)、调节蜗杆(13)、驱动螺杆(17)和驱动蜗杆(19)。3.根据权利要求1所述的一种X光金属镀层测厚仪，其特征在于，所述滑动件(21)的中端内部固定连接有驱动螺环(22)，且驱动螺环(22)的内壁与驱动螺杆(17)的外壁螺纹连接。4.根据权利要求2所述的一种X光金属镀层测厚仪，其特征在于，所述驱动蜗杆(19)的外壁啮合有驱动蜗轮(18)，且驱动蜗轮(18)的轴心与驱动螺杆(17)的外壁固定连接。5.根据权利要求1所述的一种X光金属镀层测厚仪，其特征在于，所述支撑台(1)的两侧由外向内均开设有活动槽(10)，且活动槽(10)的槽壁活动连接有活动件(14)，且活动件(14)的外壁固定连接有夹板(16)。6.根据权利要求5所述的一种X光金属镀层测厚仪，其特征在于，所述活动件(14)的中端内部固定连接有调节螺环(15)，且调节螺环(15)的内壁与调节螺杆(11)的外壁螺纹连接。7.根据权利要求2所述的一种X光金属镀层测厚仪，其特征在于，所述调节蜗杆(13)的外壁啮合有调节蜗轮(12)，且调节蜗轮(12)的轴心与调节螺杆(11)的外壁固定连接。 说明书： 一种X光金属镀层测厚仪技术领域[0001] 本实用新型涉及测厚仪技术领域，尤其涉及一种X光金属镀层测厚仪。背景技术[0002] X光金属镀层测厚仪是一种对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器，测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等(在有关国家和国
声明：
“X光金属镀层测厚仪” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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编辑：中冶有色网
来源：深圳市鼎极天电子有限公司
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2025年05月16日 ~ 18日 
