权利要求书： 1.气缸测厚仪，其特征在于：气缸位于形块上，所测气缸的壁厚H由光斑坐标、气膜厚度h1和H2得到；所述的H2是探测头下方气缸外圆的下母线上的点到形块槽底的距离；驱动机构使气缸相对于导轨移动或转动；探测杆上的探测头与孔壁之间存在气膜；光发射装置安装于探测头上，位于孔内或孔外；当气缸沿导轨运动时，探测杆、探测头绕第一运动副和第二运动副旋转；探索杆位置的变化引起光发射装置、光线和光接收装置上光斑位置发生变化；运算显示部分对光斑位置信息进行处理；第一运动副可以在孔内或孔外，只有一个旋转自由度；第二运动副只有一个旋转自由度；当探测杆脱离气缸时，位于下支撑、气体、上支撑上，或位于其下方没有气体的物体上，或自然下垂；压缩气体流过探测头气孔和上支撑气孔；探测头与孔壁之间气膜的厚度h1由光斑坐标和检测前已知壁厚的辅助气缸的参数得到；气压为Ps的气体，经放大阀(21)的阀口a，流到与探测杆相连的上支撑气孔，进入上支撑与下支撑之间的气腔，再经上支撑与下支撑之间的缝隙进入大气；压力为Ps的气体经阀口a后压力降至P，再经上述缝隙压力降至0；Ps的另一路经节流阀把气压降至Pd，流到探测头气孔，使探测头与孔壁之间形成厚度为h1的气膜；Pd还被引至放大阀(21)的中部；Ps还经定压阀(20)减压至恒定的气压Pc，并引至放大阀(21)的下部；PcA加弹簧力与PdA平衡，其中A为膜片的面积；当壁厚增加时，h1减小，Pd增加，阀芯(22)下降，开口a加大，P升高，通过上支撑气孔流入气腔的气体对探测杆向上的作用力加大，探测杆上移，光斑也上移；当壁厚减小时，探测杆下移，光斑也下移。
2.根据权利要求1所述的气缸测厚仪，其特征在于：光发射装置发出的光线穿过遮光罩一侧的孔，射向光接收装置，其上光斑的变动量大于探测头的径向位移。
3.根据权利要求1所述的气缸测厚仪，其特征在于：运算显示部分能输出壁厚、壁厚的方差、均值、中间值。
4.根据权利要求1所述的气缸测厚仪，其特征在于：由光学测距仪或机械测距仪获得气缸移动后的轴向坐标。
说明书： 气缸测厚仪技术领域[0001] 本发明属于机械加工与检测领域，具体涉及气缸测厚仪。背景技术[0002] 现有技术检测气缸时，常常需要将百分表、千分表放入气缸内，比较适用于检测直
声明：
“气缸测厚仪” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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编辑：中冶有色网
来源：中北大学
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2025年06月06日 ~ 08日 
