权利要求书： 1.一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，包括基板(1)和测试箱(2)，其特征在于：所述测试箱(2)位于基板(1)上表面，所述测试箱(2)内部设置有冷测试仓(3)和热测试仓(4)，所述冷测试仓(3)与热测试仓(4)之间设置有真空层(22)，所述真空层(22)内部设置有保温板(23)。2.根据权利要求1所述的一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，其特征在于，所述冷测试仓(3)内表面安装有制冷机构(5)，所述冷测试仓(3)内部设置有隔冷板(6)，所述制冷机构(5)输出端安装有导冷管(7)，所述导冷管(7)贯穿隔冷板(6)，所述冷测试仓(3)底面安装有第一测试台(8)，所述第一测试台(8)位于导冷管(7)下方。3.根据权利要求2所述的一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，其特征在于，所述冷测试仓(3)一侧面设置有若干散冷槽(9)，所述冷测试仓(3)前端面安装有第一旋转门(10)，所述第一旋转门(10)前端面设置有观测窗(11)。4.根据权利要求2所述的一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，其特征在于，所述热测试仓(4)内表面安装有制热机构(12)，所述热测试仓(4)内部设置有隔热板(13)，所述制热机构(12)输出端安装有导热管(14)，所述热测试仓(4)底面安装有第二测试台(15)，所述第二测试台(15)位于导热管(14)下方，所述测试箱(2)前端面安装有控制器(19)，所述制热机构(12)和制冷机构(5)均与控制器(19)电性连接。5.根据权利要求4所述的一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，其特征在于，所述热测试仓(4)一侧面设置有散热槽(16)，所述散热槽(16)内部安装有冷扇(17)，所述热测试仓(4)前端面安装有第二旋转门(18)，所述第二旋转门(18)前端面也设置有观测窗(11)。6.根据权利要求1所述的一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，其特征在于，所述基板(1)底面设置有若干底柱(20)，所述底柱(20)底面安装有锁止万向轮(21)。 说明书： 一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机技术领域[0001] 本实用新型属于电子元件技术领域，特别是涉及一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机。背景技术[0002] 电子元件，是电子电路中的基本元素，通常是
声明：
“用于测试电子元件的冷热冲击试验机” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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编辑：中冶有色网
来源：森诺检测认证技术服务(深圳)有限公司
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2025年06月06日 ~ 08日 
