用于测试电子元件的冷热冲击试验机

264 编辑：中冶有色技术网来源：森诺检测认证技术服务(深圳)有限公司

2024-05-13 16:38:30

权利要求书： 1.一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，包括基板(1)和测试箱(2)，其特征在于：所述测试箱(2)位于基板(1)上表面，所述测试箱(2)内部设置有冷测试仓(3)和热测试仓(4)，所述冷测试仓(3)与热测试仓(4)之间设置有真空层(22)，所述真空层(22)内部设置有保温板(23)。

2.根据权利要求1所述的一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，其特征在于，所述冷测试仓(3)内表面安装有制冷机构(5)，所述冷测试仓(3)内部设置有隔冷板(6)，所述制冷机构(5)输出端安装有导冷管(7)，所述导冷管(7)贯穿隔冷板(6)，所述冷测试仓(3)底面安装有第一测试台(8)，所述第一测试台(8)位于导冷管(7)下方。

3.根据权利要求2所述的一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，其特征在于，所述冷测试仓(3)一侧面设置有若干散冷槽(9)，所述冷测试仓(3)前端面安装有第一旋转门(10)，所述第一旋转门(10)前端面设置有观测窗(11)。

4.根据权利要求2所述的一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，其特征在于，所述热测试仓(4)内表面安装有制热机构(12)，所述热测试仓(4)内部设置有隔热板(13)，所述制热机构(12)输出端安装有导热管(14)，所述热测试仓(4)底面安装有第二测试台(15)，所述第二测试台(15)位于导热管(14)下方，所述测试箱(2)前端面安装有控制器(19)，所述制热机构(12)和制冷机构(5)均与控制器(19)电性连接。

5.根据权利要求4所述的一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，其特征在于，所述热测试仓(4)一侧面设置有散热槽(16)，所述散热槽(16)内部安装有冷扇(17)，所述热测试仓(4)前端面安装有第二旋转门(18)，所述第二旋转门(18)前端面也设置有观测窗(11)。

6.根据权利要求1所述的一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，其特征在于，所述基板(1)底面设置有若干底柱(20)，所述底柱(20)底面安装有锁止万向轮(21)。

说明书：一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机技术领域[0001] 本实用新型属于电子元件技术领域，特别是涉及一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机。

背景技术[0002] 电子元件，是电子电路中的基本元素，通常是个别封装，并具有两个或以上的引线或金属接点。电子元件须相互连接以构成一个具有特定功能的电子电路，例如：放大器、无

线电接收机、振荡器等，连接电子元件常见的方式之一是焊接到印刷电路板上。电子元件也

许是单独的封装(电阻器、电容器、电感器、晶体管、二极管等)，或是各种不同复杂度的群

组。

[0003] 电子元件在出厂前会进行冷热冲击测试，现有的热冷冲击试验机制冷机构和制热机构温度不容易控制，易导致温度错乱，影响测试效果；因此，提出一种用于测试电子元件

的冷热冲击试验机。

实用新型内容

[0004] 本实用新型的目的在于提供一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，解决现有的热冷冲击试验机制冷机构和制热机构温度不容易控制，易导致温度错乱，影响测试效果

的问题。

[0005] 为解决上述技术问题，本实用新型是通过以下技术方案实现的：[0006] 本实用新型为一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，包括基板和测试箱，所述测试箱位于基板上表面，所述测试箱内部设置有冷测试仓和热测试仓，所述冷测试仓与

热测试仓之间设置有真空层，所述真空层内部设置有保温板，电子元件在冷测试仓内和热

测试仓内分别进行测试，真空层和保温板将冷测试仓和热测试仓之间的温度隔绝，防止彼

此受到影响，防止温度错乱，提升测试的准确性。

[0007] 进一步地，所述冷测试仓内表面安装有制冷机构，所述冷测试仓内部设置有隔冷板，所述制冷机构输出端安装有导冷管，所述导冷管贯穿隔冷板，所述冷测试仓底面安装有

第一测试台，所述第一测试台位于导冷管下方，将电子元件放置在第一测试台上，制冷机构

将冷气通过导冷管传导至第一测试台，对电子元件进行冷测试，隔冷板防止冷测试仓过冷，

提升安全性。

[0008] 进一步地，所述冷测试仓一侧面设置有若干散冷槽，所述冷测试仓前端面安装有第一旋转门，所述第一旋转门前端面设置有观测窗，通过第一旋转门便于开合密封冷测试

仓，散冷槽可以快速将冷测试仓内的冷气散出，观测窗便于用户观测。

[0009] 进一步地，所述热测试仓内表面安装有制热机构，所述热测试仓内部设置有隔热板，所述制热机构输出端安装有导热管，所述热测试仓底面安装有第二测试台，所述第二测

试台位于导热管下方，所述测试箱前端面安装有控制器，所述制热机构和制冷机构均与控

制器电性连接，电子元件放置在第二测试台上，制热机构将热量通过导热管传导至第二测

试台，对电子元件进行热测试，隔热板防止热测试仓过热，提升安全性。

[0010] 进一步地，所述热测试仓一侧面设置有散热槽，所述散热槽内部安装有冷扇，所述热测试仓前端面安装有第二旋转门，所述第二旋转门前端面也设置有观测窗，散热槽和冷

扇，可以将热测试仓内部的热量排出，防止过热，通过设置控制器便于对温度进行调控。

[0011] 进一步地，所述基板底面设置有若干底柱，所述底柱底面安装有锁止万向轮，锁止万向轮方便用户移动该装置。

[0012] 本实用新型具有以下有益效果：[0013] 本实用新型通过设置真空层和保温板，将冷测试仓和热测试仓之间的温度隔绝，防止彼此受到影响，防止温度错乱，提升测试的准确性；通过设置隔冷板和散冷槽，可以快

速将冷测试仓内的冷气散出，防止冷测试仓过冷，提升安全性；通过设置隔热板、散热槽和

冷扇，可以将热测试仓内部的热量排出，防止过热；通过设置控制器，便于对温度进行调节；

通过设置做止万向轮，让用户移动该装置更方便。

[0014] 当然，实施本实用新型的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。附图说明[0015] 为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，

对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得

其他的附图。

[0016] 图1为一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机的等轴侧立体结构示意图；[0017] 图2为一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机的右侧立体结构示意图；[0018] 图3为一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机的上视结构示意图；[0019] 图4为图3中A?A剖面结构示意图；[0020] 图5为图3中B?B剖面结构示意图；[0021] 图6为图3中C?C剖面结构示意图。[0022] 附图中，各标号所代表的部件列表如下：1、基板；2、测试箱；3、冷测试仓；4、热测试仓；5、制冷机构；6、隔冷板；7、导冷管；8、第一测试台；9、散冷槽；10、第一旋转门；11、观测

窗；12、制热机构；13、隔热板；14、导热管；15、第二测试台；16、散热槽；17、冷扇；18、第二旋

转门；19、控制器；20、底柱；21、锁止万向轮；22、真空层；23、保温板。

具体实施方式[0023] 下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的

实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下

所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

[0024] 在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“中”、“外”、“内”等指示方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的组件或元

件必须具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

[0025] 请参阅图1?6所示，本实用新型为一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，包括基板1和测试箱2，测试箱2位于基板1上表面，测试箱2内部设置有冷测试仓3和热测试仓4，

冷测试仓3与热测试仓4之间设置有真空层22，真空层22内部设置有保温板23，电子元件在

冷测试仓3内和热测试仓4内分别进行测试，真空层22和保温板23将冷测试仓3和热测试仓4

之间的温度隔绝，防止彼此受到影响，防止温度错乱，提升测试的准确性。

[0026] 优选地，冷测试仓3内表面安装有制冷机构5，冷测试仓3内部设置有隔冷板6，制冷机构5输出端安装有导冷管7，导冷管7贯穿隔冷板6，冷测试仓3底面安装有第一测试台8，第

一测试台8位于导冷管7下方，将电子元件放置在第一测试台8上，制冷机构5将冷气通过导

冷管7传导至第一测试台8，对电子元件进行冷测试，隔冷板6防止冷测试仓3过冷，提升安全

性。

[0027] 优选地，冷测试仓3一侧面设置有若干散冷槽9，冷测试仓3前端面安装有第一旋转门10，第一旋转门10前端面设置有观测窗11，通过第一旋转门10便于开合密封冷测试仓3，

散冷槽9可以快速将冷测试仓3内的冷气散出，观测窗11便于用户观测。

[0028] 优选地，热测试仓4内表面安装有制热机构12，热测试仓4内部设置有隔热板13，制热机构12输出端安装有导热管14，热测试仓4底面安装有第二测试台15，第二测试台15位于

导热管14下方，测试箱2前端面安装有控制器19，制热机构12和制冷机构5均与控制器19电

性连接，电子元件放置在第二测试台15上，制热机构12将热量通过导热管14传导至第二测

试台15，对电子元件进行热测试，隔热板13防止热测试仓4过热，提升安全性。

[0029] 优选地，热测试仓4一侧面设置有散热槽16，散热槽16内部安装有冷扇17，热测试仓4前端面安装有第二旋转门18，第二旋转门18前端面也设置有观测窗11，散热槽16和冷扇

17，可以将热测试仓4内部的热量排出，防止过热，通过设置控制器19便于对温度进行调控。

[0030] 优选地，基板1底面设置有若干底柱20，底柱20底面安装有锁止万向轮21，锁止万向轮21方便用户移动该装置。

[0031] 如图1?6所示本实施例为一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机的使用方法：打开第一旋转门10，将电子元件放置在第一测试台8上，关闭第一旋转门10，制冷机构5将冷

气通过导冷管7传导至第一测试台8，对电子元件进行冷测试，观测窗11便于用户观测；打开

第二旋转门18，电子元件放置在第二测试台15上，关闭第二旋转门18，制热机构12将热量通

过导热管14传导至第二测试台15，对电子元件进行热测试；调节控制器19可以对各个机构

的温度进行调控。

[0032] 在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个

实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或

示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例

中以合适的方式结合。

[0033] 以上公开的本实用新型优选实施例只是用于帮助阐述本实用新型。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该实用新型仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说

明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地

解释本实用新型的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本

实用新型。本实用新型仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。