工作原理
A550结合XRF与ICP技术优势:
初级激发:微型X射线管或激光脉冲激发样品表面,产生特征X射线荧光;
次级增强(选配):对低含量元素,通过电感耦合等离子体二次激发,提升信号强度;
光谱解析:高分辨率硅漂移探测器(SDD)捕获荧光信号,经多道分析器(MCA)生成能谱图;
智能定量:内置合金元素数据库与FP(基本参数法)算法,自动校正基体效应,输出各元素质量分数。
仪器支持无损检测与微区分析(最小采样面积Φ0.2mm),适应粗糙、异形样品表面。
应用范围
金属冶炼:炉前成分快速分析,优化合金配比;
制造业:原材料入厂检验、焊接材料一致性核查;
航空航天:高温合金、钛合金牌号鉴定与失效分析;
废旧回收:金属废料分类分级,提升资源利用率;
质检机构:金属制品成分合规性检测(如ASTM E415、GB/T 11170标准)。
产品技术参数
检测元素:Fe、Ni、Cr、Mo、Ti、Al、Cu等26种元素
含量范围:0.001%~100%
检出限:Cr≤3ppm,Ni≤5ppm,Mo≤8ppm
分析时间:5~30秒(无损模式)/60~120秒(ICP增强模式)
激发源:50kV/200μA微型X射线管或激光脉冲(可选)
探测器:SDD探测器,分辨率≤130eV
准直器:Φ0.2mm/Φ1mm可换
数据存储:≥50,000组记录,支持USB/蓝牙/4G传输
防护等级:IP65(防尘防水),适应-20~50℃环境
产品特点
双模融合:XRF快速筛查+ICP精准定量,满足不同场景需求;
超低检出限:SDD探测器结合算法优化,实现痕量元素检测;
便携耐用:主机重量1.8kg,镁铝合金机身,通过1.5米跌落测试;
智能交互:7英寸触控屏,支持语音导航与一键牌号匹配;
安全合规:符合ISO 9001与CE标准,辐射剂量<0.5μSv/h。