工作原理
基于布拉格衍射定律(2dsinθ=nλ),仪器通过发射单色X射线照射样品,晶体内部规则排列的原子使X射线产生衍射。探测器捕获衍射光子信号后,结合数据库比对与算法分析,生成衍射图谱并解析材料成分、晶格参数及物相组成。其核心优势在于无需复杂制样,可直接对粉末、块状或薄膜样品进行无损检测,且检测过程不受样品形态限制。
应用范围
地质勘探:快速鉴定岩石矿物种类及含量,辅助矿产资源评估。
环境监测:分析土壤、水体中的重金属污染形态及粘土矿物组成。
材料科学:研究陶瓷、金属、高分子材料的相变过程及结晶度。
考古与文物保护:鉴定文物材质及腐蚀产物,为修复提供科学依据。
工业检测:监测金属腐蚀、水泥水化产物及涂料成分。
产品技术参数
X射线源:微聚焦X射线管,功率10W,阳极靶材可选Cu/Co。
探测器:高灵敏度CCD,分辨率达0.25°,XRF分辨率230eV。
测量范围:2θ角度5°-55°,样品量仅需15-20mg(粒径<150μm)。
尺寸与重量:500mm×400mm×188mm,主机净重15kg,便携性优异。
环境适应性:防水防尘设计,工作温度-10℃至40℃,湿度≤90%。
数据库:内置30000+种矿物标准图谱,支持自动匹配与定量分析。
产品特点
便携性与耐用性:采用一体式防水防尘箱设计,无机械移动部件,适应野外震动、潮湿等恶劣环境。
双模式集成:同步采集XRD与XRF数据,提供物相与元素成分的双重验证,提升检测准确性。
操作便捷性:一键式自动检测,3分钟完成样品制备,支持USB/蓝牙/WIFI无线连接,实时传输数据至笔记本。
智能分析软件:配备CrystalX处理系统,自动扣除背景、校正峰形,生成定性定量报告,降低使用门槛。
安全防护:多重辐射屏蔽设计,表面辐射剂量<0.5mRad/h,符合国家安全标准。