工作原理:
通过低辐射Soft-X Ray技术,利用X射线在材料中的衰减特性,结合多道脉冲分析系统,精准解析多层结构的厚度与密度分布。
应用范围:
覆盖新能源、包装及无纺布等行业。
产品技术参数:
设备厚度测量范围为0.005mm至10mm(精度±0.1μm),克重检测范围10-1000g/m²(精度±0.1g/m²),系统响应时间≤10ms。配套“O”型与“C”型智能扫描架,支持边缘检测算法(精度±1mm),可自动分区控制并去除间隙误差。使用环境要求为0℃至50℃(特殊散热处理可达80℃),相对湿度≤85%,无导电尘埃与腐蚀性气体。
产品特点:
采用模块化探头设计,安装与检修便捷;配备智能扫描架,支持机械自补偿与探头定时校准;软件界面支持直方图、点位图及曲线显示,可实时标记合格/不合格区域;系统兼容远程维护功能,支持历史数据查询与CPK质量控制分析。