简介
JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200KV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。
工作原理
JEM2100用于样品的形貌、粒径、分散性等相关信息,同时还可通过明场像、暗场像对样品的质厚衬度像、衍衬像进行进一步的表征分析。对样品组织结构进行纳米尺度的微分析。高分辨晶格条纹像、选区电子衍射、会聚束电子衍射等。对纳米级的微区或晶粒的进行成分分析,可选择性的对样品进行点线面能谱扫描,获得元素在样品不同区域的分布情况。 技术参数
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加速电压30,60,120,200kV
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球差系数1.0mm
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点分辨率0.23nm
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晶格分辨率0.14nm
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成像模式TEM
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放大倍数×2000~1500000
选型原则
检测能力:形貌、结构、成分分析 应用案例
下单网址:www.foftest.com 设备结构
JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200KV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。