基础金属	铜电解铜铜精矿铜管铜棒废铜铜排铜合金精铜杆再生铜杆铜板带铝铝土矿氧化铝电解铝铝辅料铝棒铝合金锭废铝铝杆铝型材铝板卷铅铅精矿铅锭铅蓄电池再生精铅还原铅废铅蓄电池铅合金锌锌精矿电解锌锌合金氧化锌锌粉锡锡精矿锡锭锡材
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球差电镜测试

3215

规格/型号：JEM-ARM200F

品牌：暂无

应用领域：暂无

产地：北京 - 北京

厂家/供应商：北京依维特技术服务有限公司

咨询电话:：暂无（请说明信息源自“北方有色网”）

更新时间：2022-01-17

级别：已认证

球差电镜测试说明介绍

简介 JEM-ARM200F差校正透射电镜，拥有STEM-HAADF像分辨率（63PM）,标配了扫描透射环形明场(STEM-ABF)成像模式。对样品在纳米尺度的精细结构和化学成份进行高水平表征检测。用于纳米科学、材料科学、生命科学等领域的科研项目。 工作原理 JEM-ARM200F差校正透射电镜可用于成分，形貌，结构分析测试。获得样品表面形貌，粒径等相关信息。用于获得明、暗场像的衬度像进行分析。直接观察晶体样品中轻元素的原子阵列，还可以同时获取STEM-HAADF像，极大增强观察、分析能力。原子像，选区电子衍射，会聚束电子衍射；对样品在纳米尺度的精细结构和化学成份进行高水平表征检测。 技术参数

束流强度0.2nm时0.5nA 或更高
点分辨率≤0.23nm
聚光镜球差系数可调，±5um 或更好
放大倍数TEM: 50-2,000,000倍*；STEM magnification: ≥150,000,000*
样品室≤2 x 10-5 Pa
加速电压80—300kV

选型原则 检测能力：形貌、结构、成分分析 应用案例 下单网址：www.foftest.com 设备结构 JEM-ARM200F差校正透射电镜，拥有STEM-HAADF像分辨率（63PM）,标配了扫描透射环形明场(STEM-ABF)成像模式。对样品在纳米尺度的精细结构和化学成份进行高水平表征检测。用于纳米科学、材料科学、生命科学等领域的科研项目。