
仪器简介
日本理学ZSX Primus下照射荧光光谱仪,可对从O到U之间的元素进行定量和半定量元素测量,具有超尖锐超薄窗X射线管(75um);流气式和高能闪烁式探测器;坚固耐用,精确和快速的独立转动测角仪。
性能指标
测量范围:从O到U之间的元素进行定量和半定量元素测量
样品厚度:不超过 5 mm
样品直径:Φ15 mm到Φ40 mm
样品要求:表面光滑
测量精度:ppm级别
气氛:P10气体
测试项目
从O到U之间的元素进行定量和半定量元素测量。
样品要求
固态样品,圆片状,φ15-φ50mm,厚度0.5-4mm。上下表面光滑