简介
日本电子 JXA-8230电子探针显微镜分析仪可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA (电子探针)秉承近半个世纪的EPMA的发展历史,JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析,这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是能完全满足多种需求的强力分析工具之一。
工作原理
应用范围:1.金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分鉴定。 2.金银饰品、宝石首饰的鉴别,考古和文物鉴定,以及刑侦鉴定等领域。 技术参数
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检测元素范围(Be)*1 /B~U, EDS:B~U
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X射线检测范围WDS检测的波长范围0.087~9.3nm
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EDS EDS检测的能量范围20keV
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加速电压0~30kV
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束流电流范围10-12 ~ 10-5 A
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束流电流稳定度5%/h, ±0.3%/12h(W)
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二次电子分辨率6nm(W), 5nm(LaB6)*2(W.D. 11mm, 30kV)
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扫描倍率×40 ~ ×300,000(W. D. 11mm)
选型原则
检测能力:表面涂层、镀层、微区成分的定性和定量分析 应用案例
下单网址:www.foftest.com 设备结构
日本电子 JXA-8230电子探针显微镜分析仪可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA (电子探针)秉承近半个世纪的EPMA的发展历史,JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析,这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是能完全满足多种需求的强力分析工具之一。