本发明涉及一种通过控制温度提高集成电路可靠性的方法,包括以下步骤:在集成电路内部集成一个或多个温度监控单元;通过温度监控单元实时监测集成电路内部的温度变化;根据得到的集成电路内部的温度来调整集成电路的工作频率,使集成电路的内部温度控制在可靠范围内。本发明通过调整数字电路的工作频率降低集成电路的功耗,调整
芯片的内部温度,从而降低由于温度引起电路失效的几率。
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