本发明公开了一种通过故障隔离技术提高内存可靠性的方法,所述方法通过测试程序,在DRAM颗粒在出厂后,将使用过程中即将变坏的Cell地址信息动态地加入到“失效地址列表”中,让内存控制器不去访问这一块的地址空间,从而延长内存系统的使用寿命。本发明方法可达到提高内存系统可靠性的目的,降低由于内存故障引起系统宕机的风险,减少因为内存原因引起的故障,提高产品竞争力,经济效益明显。
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