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LED灯具加速寿命试验方法及计算机可读存储介质

755   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:01:44
本发明涉及基于电应力在不同测试状态下LED灯具加速寿命试验方法,所述试验方法包括以下步骤:根据e指数衰减和每个LED目标试样的所有光衰数据进行拟合,得到两组LED目标试中每个LED目标试样在不同测试状态下的光通量衰减速率;根据LED的失效阈值和每个LED目标试样在不同测试状态下的光通量衰减速率,得到两组LED目标试中每个LED目标试样的加速寿命;根据累积失效概率为威布尔分布和两组LED目标试中每个LED目标试样的加速寿命,得到每组LED目标试样在不同测试状态下的特征寿命;根据加速寿命符合逆幂律模型,得到每个LED目标试样在不同测试状态下的工作特征寿命,并确定当累积失效概率的大小不同时在不同测试状态下的工作特征寿命误差。
声明:
“LED灯具加速寿命试验方法及计算机可读存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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