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半导体存储装置

1036   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:47
设置了在使扰动测试信号(TESTUBBS)和自刷新信号(/BBU)激活时使小电压值检测器(38)激活而且可使大电压值检测器(36)失效的切换电路(40)。因此,不仅在扰动测试方式时,而且在自刷新方式时,由基板电压发生电路(34)发生与小电压值检测器(38)的检测电压值相等的低的基板电压(VBB)。结果,能够防止因增设小电压值检测器(38)而导致的面积的增大。
声明:
“半导体存储装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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