本发明公开了存储器、安全仪表系统SIL验证方法、系统和装置,其中所述方法包括:将用于构建可靠性框图的安全仪表功能SIF回路分设置为包括传感单元、逻辑控制器单元和执行单元;根据所述SIF回路中各元件的失效数据分别计算各单元的安全失效分数SFF与最大故障裕度HFT,并得到所述SIF回路的结构约束等级;对三个单元分别进行建模计算时包括:根据元件的定期检测时间间隔及其对应的检验测试覆盖率PTC计算元件的不可检测的危险失效部分的共因失效。本发明在计算不可检测危险失效部分的共因失效时,相对于未考虑检验测试周期变化造成的影响的现有技术,本发明可以有效的提高SIF回路计算平均失效概率的结果的准确性。
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