合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 半导体装置缺陷点定位方法

半导体装置缺陷点定位方法

759   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:39
本发明公开了一种半导体装置的缺陷点定位方法,包括:将缺陷定位仪中的探针与半导体晶片的器件进行电性连接;对所述半导体晶片的器件施加激励,使缺陷点显现;使用缺陷定位仪中的探针在靠近所述缺陷点的位置刻出标识点;确定标识点和缺陷点的位置关系。本发明提供的方法,当半导体晶片器件中的缺陷点因受到激励而显现时,使用现有的缺陷定位仪的中的探针在缺陷点附近设置标识点,这样就可以根据标识点的位置和标识点与缺陷点的位置关系定位缺陷点。该方法无需采用昂贵的激光打标机,能够降低失效分析的成本,同时该方法无需对现有的设备进行改装,可方便快捷的实现无效分析,简单实用,提高失效分析的效率。
声明:
“半导体装置缺陷点定位方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记