本发明提供了电性地址与物理地址对应关系的调整方法,以在根据该对应关系,通过位图系统输出的损坏逻辑die中不合格cell的电性地址,得到该不合格cell的正确物理地址,进而提高失效性分析的成功率。该方法包括:破坏die中预定物理地址的cell;位图系统检测该die,并输出该破坏的cell的电性地址;基于已有电性地址与物理地址的对应关系,通过该电性地址获得该破坏cell的物理地址;比较出获得的该物理地址与预定物理地址的偏差;以及根据该偏差调整所述对应关系。
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