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后处理系统老化预测方法及装置

776   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:34
本发明提供了一种后处理系统老化预测方法及装置,方法包括实时统计SCR上游温度在预设的不同温度区间内的累积时长;在SCR失效后,将各个温度区间内的累积时长,与预设的各个温度区间对应的老化速率相乘,得到各个温度区间的热老化能量;并将各个温度区间的热老化能量相加,得到SCR实际受到的热老化能量;根据SCR实际受到的热老化能量与预设的SCR的耐热老化阈值的大小关系,确定后处理系统是否热老化;进而在确定后处理系统热老化后,进行后处理系统更换提示。实现了对后处理系统的老化预测,并及时提醒用户更换,降低了后处理系统老化导致的排放超标。
声明:
“后处理系统老化预测方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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