合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 非易失存储器耐久力物理数据模型测试方法

非易失存储器耐久力物理数据模型测试方法

876   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:33
本发明公开了一种消除高安全智能卡芯片数据加解密对非易失存储器可靠性测试影响的方法。针对数据加密后写入存储器的物理数据与编程预期数据不一致,在测试COS中嵌入预加解密函数,对数据进行预加解密处理,保证写入存储器的物理数据与预期数据一致。本发明提出的非易失存储器物理数据模型测试方法,能够覆盖典型物理失效模式,有效地考核高安全智能卡芯片中非易失存储器的本征可靠性水平。
声明:
“非易失存储器耐久力物理数据模型测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记