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老化测试器结构

815   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:23
本实用新型涉及一种老化测试器结构。这种老化测试器包括USB插头和基体,基体包括盖板、电路板和底板,电路板夹紧固定于盖板和底板之间;USB插头与电路板电连接,USB插头固定连接盖板和底板的侧边;电路板上的测试触点穿过盖板外露于背向电路板的、盖板的工作表面,盖板上设有沿着盖板工作表面的法向凸起的隔离台,隔离台设在测试触点与USB插头之间。隔离台的高度大于所述测试触点的高度。本实用新型在USB插头和测试触点之间设置隔离台,使得USB插头和测试触点不会产生击穿,从而降低设备失效几率、降低测试失败几率,同时保证了测试的安全,提高了测试器的可靠性,满足测试需求。
声明:
“老化测试器结构” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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