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数字集成电路芯片测试系统

805   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:22
本发明提供一种基于测试向量的测试系统,实现对数字集成电路的功能测试,功能测试主要测试芯片在一定时序下的逻辑功能,其基本原理是借助于测试向量,对芯片施加激励,观察其响应是否和设想的一致。功能测试可以覆盖极高比例逻辑电路的失效模型。该调试技术支持单步测试系统包括两大部分:运行于PC机的测试向量文件转换软件和数字集成电路芯片测试机组成。数字集成电路芯片测试机由CPU+FPGA的架构组成,CPU负责pattern文件存储、转换,测试过程控制、与主机通信等功能。pattern控制的逻辑电路由一块FPGA实现,FPGA完成波形产生、Pattern?RAM的控制和采样控制,同时控制驱动器及比较器以实现对被测对象的测试控制。
声明:
“数字集成电路芯片测试系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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