本发明公开了一种带存储单元的集成
芯片的复测方法,包括如下步骤:步骤一,通过读取CP1通过标记,判断芯片是否做过并完全通过上次CP1测试;若通过则测试继续进行,若失效则测试结束,返回失效结果;步骤二,通过读取CP2通过标记,判断芯片是否做过并完全通过上次CP2测试;若通过则测试结束,返回通过结果;若失效则测试继续进行;步骤三,通过读CP2第一数据保存标记,判断是否需要进行数据保存功能测试;若需要则测试继续进行,若不需要则测试结束,返回失效结果;步骤四,通过写及读CP2第二数据保存标记,验证CP2第二数据保存标记,以便复测时判断数据保存功能是否失效。本发明能够保证测试结果的准确性并节省复测时间。
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“带存储单元的集成芯片的复测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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