本发明公开了一种SRAM电磁抗扰度的片上测量方法和系统,利用电磁干扰检测模块的信号的周期性不受封装影响的特点,将内部电源Pad的干扰幅度转换成周期性的信号,通过检测该信号的频率就可以表征电源电压干扰幅度ARFI。并且通过功能测试模块就可以产生SRAM读、写操作的测试向量,并且判断SRAM受扰的失效情况。主要还会提供一个反馈信号,控制环形振荡器的开关状态,降低环形振荡器的功耗,将SRAM不同工作状态读或者写分开进行抗扰度测试,互不影响。
声明:
“SRAM电磁抗扰度的片上测量方法和系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)