合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> SRAM电磁抗扰度的片上测量方法和系统

SRAM电磁抗扰度的片上测量方法和系统

752   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:17
本发明公开了一种SRAM电磁抗扰度的片上测量方法和系统,利用电磁干扰检测模块的信号的周期性不受封装影响的特点,将内部电源Pad的干扰幅度转换成周期性的信号,通过检测该信号的频率就可以表征电源电压干扰幅度ARFI。并且通过功能测试模块就可以产生SRAM读、写操作的测试向量,并且判断SRAM受扰的失效情况。主要还会提供一个反馈信号,控制环形振荡器的开关状态,降低环形振荡器的功耗,将SRAM不同工作状态读或者写分开进行抗扰度测试,互不影响。
声明:
“SRAM电磁抗扰度的片上测量方法和系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记