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电路板IO连通性的测试装置

847   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:17
本实用新型公开了一种电路板IO连通性的测试装置,测试装置包括测试控制模块、数据处理模块、数据校验模块、IO测试板。其中,数据处理模块通过IO接口信号连接至IO测试板,并配置输出IO管脚的电平状态,数据校验模块用于检测被测模块电路上任一路输入IO管脚的开路或短路的状态。本发明的测试装置用于电路板上MCU或FPGA芯片的IO与所连接的接插件的连通性测试,能准确检测出IO的开路或是相临两个IO的短路问题,快速定位电路板焊接或芯片IO失效问题,加快生产和测试效率。
声明:
“电路板IO连通性的测试装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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