本实用新型公开了一种晶粒点测机探针压力调节装置,涉及半导体检测技术领域,包括主体装置,所述主体装置的内部设置有辅助台,所述辅助台的左侧开设有开口槽,所述开口槽的内壁活动连接有,所述的右侧固定连接有连接杆,所述连接杆远离所述的一端底部固定连接有弹簧,所述弹簧的内壁顶端设置有移动块。本实用新型通过连接杆、移动块和承接导体块解决晶粒点测机在高速检测的过程中,由于探针压力不易控制,当探针压力过大时,弹片在高频形变的情况下容易弹性失效,弹性失效的弹片会导致探针和LED
芯片接触不良,影响检测的问题,再是为了解决传统探针在更换的时候,比较麻烦,影响后续的工作效率的问题,从而设置了紧固旋钮。
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