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基于ATE测试平台的Flash型FPGA测试方法

700   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:15
一种基于ATE测试平台的Flash型FPGA测试方法,包括:Flash型FPGA器件片上资源划分;FPGA器件片上资源配置方案设计;生成配置文件及测试向量文件;ATE测试;实现对FPGA器件功能的测试,保证FPGA器件使用前功能性能满足相关指标要求,避免由于FPGA器件本身失效导致的电路功能性能不满足要求。
声明:
“基于ATE测试平台的Flash型FPGA测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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