本发明提供了一种测试电路、阵列基板、显示面板及测试方法,在阵列基板的非显示区上设置多个测试电路,每个测试电路包括晶体管以及与晶体管并联的光致导通器件,晶体管的栅极与一开关信号相连接,晶体管的第一电极与一数据信号相连接,晶体管的第二电极与所述阵列基板的显示区的某一数据线相连接,光致导通器件的两端分别连接至第一电极与第二电极,通过采用点光源照射光致导通器件,使得晶体管的第一电极与第二电极导通,即数据信号传输至阵列基板显示区域的数据线内,由此判断数据线与显示区内的其他信号线之间是否存在短路,能够快速判断不良失效模式,从而提高了测试效率,节省了测试时间,提高了产品的良率。
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