合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 微控制器SOC内建IO映射测试装置

微控制器SOC内建IO映射测试装置

744   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:12
本发明公开了一种微控制器SOC内建IO映射测试装置,包括外部测试逻辑模块、微控制器内核、知识产权模块IP1、知识产权模块IP2、内部测试控制模块和IO控制模块。本发明的有益效果是:1、本方案可以高效地对微控制器SOC内部的集成IP进行测试。在微控制器SOC出现失效的时候,也可以在测试模式下对内部集成的IP进行失效分析。2、本方案能够改善微控制器SOC的测试效率,只需要增加极少的资源来实现内建IO映射测试逻辑,几乎不需要增加微控制器SOC的制造成本。
声明:
“微控制器SOC内建IO映射测试装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记