本发明涉及自动测量PCIE眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质,该方法,包括:获取主机下发的读命令;解析读命令,得到命令参数;根据命令参数启动眼图测试电路,然后获取眼图数据;根据眼图数据计算出眼高眼宽数据,并将眼高眼宽数据返回至主机。本发明通过在SSD固件实现眼图测量分析,为产线测试及客户端的失效分析,提供了方便快捷的眼图分析工具,能够更好地满足需求。
声明:
“自动测量PCIE眼图的方法、装置、计算机设备及存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)