合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 芯片自动测试方法及系统

芯片自动测试方法及系统

722   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:11
本发明涉及一种芯片自动测试方法及系统,所述方法包括实时记录被测试芯片在各测试时间点的各管脚的测试值;提取所述测试值;将所述测试值与期望值进行比较,并根据所述比较结果生成对比报告;根据所述对比报告定位所述被测试芯片的失效信息,所述失效信息包括失效管脚和所述失效管脚的失效时间点。本发明可以获取全部失效管脚的失效时间点,便于根据失效管脚的失效时间点,对失效位置和失效原因进行定位分析,还可以通过设置不同的期望值等,对测试值进行全面的分析,给出更加详细更加准确的测试结果,保证测试成功率。
声明:
“芯片自动测试方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记