合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 可控硅耐量测试装置及方法

可控硅耐量测试装置及方法

994   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:11
本申请实施例提供一种可控硅耐量测试装置及方法,通过第一控制电路根据设定冲击持续时间和设定冲击间隔时间控制第二控制电路每次输入的电流冲击信号的冲击持续时间和冲击间隔时间。然后,通过第二控制电路按照设定冲击电流幅度向待测可控硅输入电流冲击信号,并记录电流冲击信号的冲击次数。最后,通过回路电流检测电路检测待测可控硅的回路电流信号,并根据回路电流信号显示待测可控硅的回路电流状态。如此,能够基于待测可控硅的回路电流状态分析电流冲击信号的冲击次数,将半导体器件的电流冲击耐受能力进行有效量化,以便于后续准确评估半导体器件的电流冲击耐受能力,进而采取必要手段降低半导体器件的器件失效比例。
声明:
“可控硅耐量测试装置及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记