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单个开关周期内芯片动态结温监测系统及监测方法

987   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:09
本发明公开了一种单个开关周期内芯片动态结温监测系统及监测方法,操作步骤如下:(1)、基于开关特性参数预测PWM周期内关断时刻初始结温,用于获得功率器件在一个开关周期内关断时刻初始结温Tj_off;(2)、基于电热模型估计PWM周期内关断期间的结温变化范围,用于获得功率器件在一个开关周期内关断过程中的结温变化范围ΔTj;(3)、基于热等效作用的估计功率器件在关断期间的最高结温,用于获得功率器件在一个开关周期内关断过程中的最高结温TMAX。本发明聚焦功率开关器件的关断过程,为功率开关器件的失效分析和电‑热管理提供了更精确的动态结温参数,兼顾安全性和经济效益,是芯片结温检测领域的一条新思路。
声明:
“单个开关周期内芯片动态结温监测系统及监测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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