本发明提供一种基于传输延迟的高速光耦贮存可靠性评价方法,步骤如下:一:测量所有高速光耦器件的传输延迟时间,完成器件初筛;二:将器件样品按不同贮存温度分为四组;三:开展高温贮存试验,间隔一周对样品测试,记录传输延迟时间及失效情况;四:高温贮存试验结束,根据传输延迟时间的退化轨迹对试验数据进行预处理;五:计算各样品器件在高温贮存试验中的预期寿命;六:将各样品器件在高温贮存试验中的预期寿命换算至25℃贮存的器件伪寿命;七:计算全体样品的平均伪寿命,可得总批次器件的伪寿命,用于评价该批次器件的贮存可靠性。通过以上步骤,可以利用传输延迟时间评价高速光耦的贮存可靠性;对传输延迟时间进行测试,可得到高速光耦的高温贮存退化模型与各样品、总批次伪寿命情况。
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