合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 用于检测半导体制冷片内部电路的测试装置

用于检测半导体制冷片内部电路的测试装置

1141   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:59
本实用新型涉及半导体制冷片检测装置领域,公开了一种用于检测半导体制冷片内部电路的测试装置,包括导通条、绝缘定位条、电源和测试区域,测试区域用于放置待测半导体制冷片,绝缘定位条活动插入待测半导体制冷片内,导通条的两端分别为定位端和连接端,定位端活动插入待测半导体制冷片内,定位端与绝缘定位条在待测半导体制冷片内活动挡接,导通条靠近定位端的侧面设有导电部,导电部上固定有弹性导电体,弹性导电体与待测半导体制冷片内部待测电路部件连接,导通条的外侧面除了导电部和连接端以外部分均覆盖有绝缘层,通过本实用新型提供的测试装置,可以快速、准确、高效便捷的检测出制冷片内部电路的失效位置及其失效模式。
声明:
“用于检测半导体制冷片内部电路的测试装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记