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LED器件性能退化的检测方法及检测系统

738   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:59
本发明提供一种LED器件性能退化的检测方法及检测系统。一种LED器件性能退化的检测方法,其中,对以恒定电压或恒定电流应力驱动的LED器件,也即老化中的LED器件,在恒定电压或恒定电流基础上引入高频交流小信号,频率大于1MHz,该交流高频小信号的引入不影响LED器件的光谱和空间光强分布;或者,以高频的脉冲电流代替恒定电流驱动LED器件,脉冲电流的有效电流水平记为驱动电流应力水平;然后,采用光电探测器探测LED器件发光,将光信号转化为电信号,进行数据采集,在线或离线分析LED器件的频率响应特性,根据老化中的频率响应特性参数相对于未老化时的变化,判断LED器件中漏电流水平,以有效便捷地检测LED器件的退化,在LED器件失效前进行预警。
声明:
“LED器件性能退化的检测方法及检测系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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