合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 基于三维TEM样品进行缺陷分析的方法

基于三维TEM样品进行缺陷分析的方法

641   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:56
本发明涉及半导体制造领域,特别涉及一种基于三维TEM样品进行缺陷分析的方法。包括以下步骤:提供带有缺陷的半导体样品;在待观测区域形成第一标记;横向电镀第一铂金保护层;制备第一TEM样品;测量缺陷到第一标记的距离;将第一TEM样品放置到半导体样品上;纵向电镀第二铂金保护层;制备三维TEM样品;三维TEM成像。本发明的技术方案,在制备三维TEM样品的基础上,进行两个方向的TEM观测和成像,可以得到半导体制程中缺陷的形貌、大小、所处层次等全面信息,进行对所述缺陷进行准确失效分析,从而提出对半导体制程的可靠改进意见;本发明的技术方案操作方法简单,三维TEM样品制备效率高,对TEM样品进行失效分析效果好,准确率高。
声明:
“基于三维TEM样品进行缺陷分析的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记