本发明涉及一种医疗器械电控设备加速试验可靠性分析方法,获取对医疗器械电控设备样品进行加速试验所得的失效时间数据,根据所述失效时间数据对应的数据分布特征选取第一分布模型;对所述第一分布模型进行参数估计,得到第二分布模型;对所述第二分布模型进行拟合优度检验,若检验合格,根据所述第二分布模型对失效时间数据进行可靠性分析,能够有效提高加速退化试验数据的可靠性。
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