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嵌入式闪存的失效测试方法

659   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:34
本发明提供了一种嵌入式闪存的失效测试方法,包括:步骤一:提供一嵌入式闪存,所述嵌入式闪存包括一存储单元阵列,所述存储单元阵列包括多条字线和与所述字线交叉设置的多条位线;以及步骤二:逐个测试所述存储单元阵列的一条对角线上的每个存储单元。采用上述嵌入式闪存的失效测试方法,只需要测试存储单元阵列对角线上的存储单元,就可以测试到所有的字线和位线的组合了。相对于现有技术来说,可以有效减少测试时间,从而实现了提高测试效率降低测试成本的目的。
声明:
“嵌入式闪存的失效测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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