本发明提供一种测试失效原因分类方法和系统、电子设备、存储介质,可应用于人工智能领域、区块链领域、分布式领域、云计算领域、大数据领域、物联网领域、移动互联领域、网络安全领域、
芯片领域、虚拟现实领域、增强现实领域、全息技术领域、量子计算领域、量子通信领域、量子测量领域、数字孪生领域或金融领域。该方法包括:获取测试失效的分析信息;对测试失效的分析信息,进行文本分词,得到失效分词信息;对失效分词信息计算特征向量权值;依据特征向量权值输入至原因分类模型进行分类,得到分析信息对应的失败原因;实现测试的失效原因进行自动分类,便于后续的处理和查询。
声明:
“测试失效原因分类方法和系统、电子设备、存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)