本发明公开一种机械结构件微结构损伤失效检测分析方法,该方法包括以下步骤:步骤一、缺陷检测:将待检测机械结构件放置在电子加速器的靶头前照射,用探测器对待检测机械结构件进行探测;步骤二、缺陷定位:两个探测器按预设角度接收待检测机械结构件湮灭放出511keV光子,并两个能谱通过三维合成云图,通过云图展示受检机械结构件的缺陷位置;步骤三、S参数计算:光谱的定性分析图,即得到可反映材料劣化信息的S参数;步骤四、缺陷情况分析:对于有缺陷的待检测机械结构件,由于电子的动量小,造成的多普勒展宽小,得到的S参数大。本发明具有根据所放出的γ射线强度,评估材料的劣化情形的特点。
声明:
“机械结构件微结构损伤失效检测分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)